場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM4000正式上線使用

          場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM4000

近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FESEM）SEM4000正式交付梧州三和新材料科技有限公司-新能源材料工程技術(shù)研究中心并投入使用。同時(shí)，該設(shè)備也進(jìn)入三和新材科技共享設(shè)備序列，企業(yè)外人員可付費(fèi)使用。

SEM4000可提供形貌觀測(cè)服務(wù)：（可實(shí)現(xiàn)金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物、復(fù)合材料等幾乎所有固體材料的表面形貌、斷口形貌、界面形貌等顯微結(jié)構(gòu)分析，搭載了X射線能譜儀（EDS），可以在觀察微區(qū)形貌的同時(shí)，分析材料的微區(qū)化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)，主要用途包括：

（1）形貌分析：觀察材料物質(zhì)的表面微觀形貌；

（2）結(jié)構(gòu)分析：觀察樣品的元素分布、顆粒尺寸等結(jié)構(gòu)信息；

（3）斷口分析：通過(guò)分析斷口結(jié)構(gòu)確定材料的斷裂性質(zhì)；

（4）粒度分析：確定顆粒樣品的粒徑范圍及分布；

（5）元素含量分析：接入能譜（EDS）探測(cè)器后，能對(duì)樣品中指定微區(qū)范圍內(nèi)4Be-92U元素進(jìn)行定性分析以及初步定量分析。

送樣要求：

（1）待檢測(cè)樣品為固體；

（2）送樣最大尺寸為直徑50mm，最大高度30mm；

（3）樣品不能有磁性；

（4）樣品導(dǎo)電性良好，或樣品可以做噴金處理。

測(cè)試聯(lián)系人

黃先生：0774-5819736

SEM4000性能特點(diǎn)

SEM4000是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì)，束流最大可達(dá)200 nA，且連續(xù)可調(diào),在配備的EDS應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。支持低真空模式，可直接觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式，以及直觀的操作界面，可以迅速高效地幫助您完成分析。

  測(cè)試圖片展示